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2024-09-14 第三代半导体材料，氮化镓（GaN），碳化硅（SiC），无损检测，光致发光三代半导体光学PL检测应用——核心成像器件推荐
半导体技术的发展对人类社会的进步产生了深远影响。进入21世纪后，第三代半导体材料如氮化镓（GaN）和碳化硅（SiC）因其独特的物理特性和优势，在多个领域展现出巨大的应用潜力，逐渐成为半导体市场的重要力量。 -
2024-06-27 碳化硅，半导体，光致发光半导体显微检测
半导体显微检测应用案例 -
2024-06-26 EMMI，红外，半导体检测微光显微镜（EMMI）案例展示
通过高灵敏度深度制冷红外相机配合显微镜系统，对半导体器件通电发光的失效情况进行了探测，将问题点位清晰的标识了出来，帮助用户对器件失效情况进行定位
